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德国scientaomicron
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德国scientaomicron德国scientaomicron

更新时间:2026-09-29    浏览量:10

产品描述:ARCTIC SPM Lab代表了该公司在低温和无液氦SPM技术上的新进展。德国scientaomicron扫描探针显微镜基于闭循环冷却平台,旨在提供持续、低维护成本的低温测量环境,其核心是经过验证的Tribus非磁性SPM扫描头。

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scientaomicron扫描探针显微镜公司简介

Scienta Omicron是表面科学与纳米技术领域的高科技仪器制造商,专注于电子能谱、扫描探针显微镜和薄膜沉积技术的研发与生产。公司成立于2015年,由VG Scienta和Omicron NanoTechnology两家公司合并而成,其技术中心分别位于瑞典乌普萨拉和德国陶努斯施泰因。公司致力于为全球研究人员提供超高真空环境下的模块化、集成化解决方案,其设备被广泛应用于量子材料、能源技术、半导体等前沿研究领域,并多次助力诺贝尔奖得主的研究工作。

 

scientaomicron扫描探针显微镜 主要产品

Scienta Omicron的产品线覆盖表面分析的全流程,主要包括以下几类:

扫描探针显微镜:包括低温、变温、闭循环制冷等不同技术路线的STM、AFM系统,以及可进行多探针输运测量的系统。

光电子能谱仪:包括用于角分辨光电子能谱、硬X射线光电子能谱、高压光电子能谱等多种技术的电子分析器。

薄膜沉积系统:用于分子束外延等薄膜生长技术的设备。

离子与电子源:用于样品清洁、深度剖析、电子能量损失谱等实验的激发源。

 

scientaomicron扫描探针显微镜主要型号

该公司的扫描探针显微镜产品线中,主要型号包括:

ARCTIC SPM Lab:新型闭循环制冷、可结合高磁场与光学附件的低温SPM系统。

INFINITY SPM Lab:采用脉管制冷机的闭循环低温SPM,无需液体制冷剂。

POLAR SPM Lab:可提供高达5T磁场和宽温度范围的低温SPM。

STREAM SPM Lab:采用流动低温恒温器的经济型低温SPM平台。

LT STM III:以4LHe浴槽低温恒温器为基础的高性能、高产出低温STM,是行业标准之一。

TRIBUS SPM:结构紧凑、应用灵活的SPM扫描头,常作为核心部件集成于上述系统中。

 

scientaomicron扫描探针显微镜产品介绍(以ARCTIC SPM Lab为例)

ARCTIC SPM Lab代表了该公司在低温和无液氦SPM技术上的新进展。该系统基于闭循环冷却平台,旨在提供持续、低维护成本的低温测量环境,其核心是经过验证的Tribus非磁性SPM扫描头。

技术参数:

Ø 基础真空度:3E-10 mbar

Ø 磁体:干式超导磁体,磁场方向垂直于样品表面,强度最高5T

Ø 光学端口:9个

Ø 蒸发端口:4个

Ø SPM扫描头:Tribus Ultra

Ø 工作原理:该系统通过闭循环制冷机将电能转化为冷量,为SPM扫描头提供持续低温环境(基础温度4K,可定制1K),无需消耗液氦。其设计注重机械和声学隔振,以确保在低温下获得稳定的扫描隧道显微镜/光谱学和高灵敏度的QPlus®原子力显微镜性能。

Ø 功能与应用:该系统支持STM/STS、QPlus®非接触AFM、针尖功能化、原子/分子操纵、微分电导谱、自旋极化STM等多种技术。其功能可通过添加射频(RF)附件、光学透镜或抛物面镜等模块进行扩展。

 德国scientaomicron产品详情

scientaomicron扫描探针显微镜优势特点

Ø 持续低温与低维护成本:采用闭循环制冷技术,无需消耗昂贵的液氦,可实现连续、不受限的测量时间,并降低了长期运行成本。

Ø 性能稳定:尽管是无液氦设计,但通过隔振和噪声消除系统,其测量稳定性和分辨率能够达到传统液氦恒温器SPM的水平。

Ø 多功能融合:在一个系统中整合了高磁场、射频信号传输、多种光学通路,支持将磁场、光学、电子测量等条件结合于同一实验。

Ø 结构紧凑与模块化:占地面积小,适应实验室空间。其模块化设计允许用户根据研究需求,后续升级集成射频、光学等组件,具有灵活性。

 

scientaomicron扫描探针显微镜应用领域

Ø 量子材料研究:用于研究拓扑绝缘体、超导体、二维电子气等量子材料的电子态和自旋结构,特别是在低温高磁场条件下的行为。

Ø 单原子/分子物理与化学:利用高分辨率STM/AFM在原子尺度上成像、操纵和测量单分子或原子的电子与振动特性。

Ø 自旋电子学:结合自旋极化STM技术,研究材料表面的自旋极化现象和磁结构。

Ø 表面化学反应:通过非接触AFM和功能化针尖,实现在表面化学反应过程中对化学键和中间产物的直接成像。

Ø 纳米器件表征:通过系统提供的多个电学接触点,在成像同时对微纳器件的电输运性质进行原位测量。

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